超聲波測厚儀MX-3手持式超聲波測厚儀是一種可信賴的精密測量工具，無需特別培訓即可操作。
將探頭放到被測材料的上面，就可讀出被測材料的厚度； 沿被測材料的表面拖動探頭，MX-3便可以自動找出被測材料的*薄點。
技術參數測量范圍：0.63～500mm(鋼，取決于探頭)顯示精度：0.01mm探頭頻率：1MHz～10MHz 顯示方式：帶背光的液晶顯示器校準：對話式探頭，自動校準聲速范圍：1250～10000m/s掃描方式：每秒測量16個點，可以捕捉到*薄點電源：2節15號電池。連續使用時間達200小時，當電池供電不足時，顯示器會閃爍報警，直至自動關機鍵盤：6鍵防水，防油鍵盤操作溫度：-30℃～50℃尺寸：63.5x114.3x31.5mm重量：300g包裝：ABS工程塑料箱
常用探頭選擇
型號
頻率
探頭晶片直徑
測量范圍
說明
PT-102-2000
5.0MHz
φ6.3mm
1.0～152mm
標準探頭
PT-101-2000
φ4.7mm
1.5～50mm
小管徑探頭
PT-104-0000
1.0MHz
φ12.7mm
3.8～50.8mm(鑄鐵中)
鑄鐵探頭
PT-102-1000
2.25MHz
1.5～127mm
低頻探頭
PT-102-3200
7.5MHz
0.63～152mm
超薄探頭
PT-104-2000
1.27～500mm
超厚探頭
PT-042-2000
標準高溫探頭，*高340℃
PT-044-2000
厚高溫探頭，*高340℃
注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑。