涂層測(cè)厚儀探頭N1探頭
涂層測(cè)厚儀探頭N1探頭是渦流法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，涂層測(cè)厚儀探頭測(cè)量范圍0-1250um，涂層測(cè)厚儀探頭基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，涂層測(cè)厚儀探頭也是TT260的標(biāo)配探頭。
測(cè)頭型號(hào)
N1
涂層測(cè)厚儀探頭工作原理
電渦流
涂層測(cè)厚儀探頭測(cè)量范圍（um）
0-1250(銅上鍍鉻0-40um)
涂層測(cè)厚儀探頭低限分辨力(um)
0.1
示值誤差
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
±[3%H+1.5]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
±[(1～3)%H+1.5]
測(cè)量條件
*小曲率半徑(mm)
3
基體*小面積的直徑(mm)
ф5
*小臨界厚度(mm)
0.3
涂層測(cè)厚儀探頭探頭尺寸（mm)
ф15X73