德國EPK(Elektrophysik)公司涂渡層測厚儀MiniTest1100特點：
可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。MiniTest涂層測厚儀功能
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數):1數據總量:1
MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端分辨率
誤差
*小曲率半徑(凸/凹)
*小測量區域直徑
*小基體厚度
探頭尺寸
磁感應法
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
F1.6/90
平面/6mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
φ45x70mm
兩用
FN1.6
F0.5mmN50μm
FN1.6P
平面
30mm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
電渦流法
N02
0-200μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
2.5mm
100μm
N1.6
N1.6/90
平面/10mm
φ13x13x170mm
N10
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
φ60x50mm
N20
±(1%±50μm)
70mm
φ65x75mm
N100
0-100mm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
7mm
無限制
φ17x80mm
注：
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MiniTest涂層測厚儀探頭:
FN1.60～1600μm,φ5mm兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P0～1600μm,φ30mm兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F050～500μm,φ3mm磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.60～1600μm,φ5mm磁性測頭量程低端分辨率很高(0.1μm)
F30～3000μm,φ5mm磁性測頭可用于較厚的覆層
F1.6/900～1600μm,φ5mm90度磁性測頭尤其適合于在管內壁測量量程低端分辨率很高(0.1μm)
F100～10mm,φ20mm適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F200～20mm,φ40mm適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F500～50mm,φ300mm適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N020～200μm,φ2mm非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr0～80μm,φ2mm適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.60～1600μm,φ2mm非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/900～1600μm,φ5mm磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內壁測量量程低端分辨率很高(0.1μm)
N100～10mm,φ50mm非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N200～20mm,φ70mm非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N1000～100mm,200mm非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN0210～200μm,φ7mm用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板