MiniTest730涂層測(cè)厚儀-**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下,您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值;也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過(guò)您所設(shè)定的極限值時(shí),儀器會(huì)報(bào)警,保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過(guò)任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過(guò)極限值則用紅色LED燈提示。 使用簡(jiǎn)單方便MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以滿足您所有涂層測(cè)量需求:如果您想單手測(cè)量,可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和**所有MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀的探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和**,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),兩點(diǎn)校準(zhǔn)和三點(diǎn)校準(zhǔn)。另外,還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)全球銷售需要,MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀滿足各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):SSPC-PA2、ISO、瑞典(SS184160)、澳大利亞(AS 3894.3)、ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。 MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽:-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加**-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤-生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高**度的特征曲線-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)-菜單指引操作,25種語(yǔ)言可選-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC-可下載更新軟件MINITEST730系列涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)探頭類型:外置
數(shù)據(jù)記憶組數(shù):10存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量:*多10,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值: 讀值個(gè)數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范:ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式:出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控:聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限
測(cè)量單位:μm,mm,cm;mils,inch,thou
操作溫度:-10℃~60℃
存放溫度:-20℃~70℃
數(shù)據(jù)接口:IrDA 1.0(紅外接口)
電源:2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
體積:157mm x 75.5mm x 49mm
重量:約約210g
探頭
探頭特性
F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5
F2
F5,N2.5,F(xiàn)N5
F15
F
N
測(cè)量范圍
0~1.5mm
0~0.7mm
0~-2mm
0~5mm
0~2.5mm
0~15mm
使用范圍
小工件,薄涂層
粗糙表面
標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛
厚涂層
測(cè)量原理
磁感應(yīng)
電渦流
信號(hào)處理
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
**度
±(1μm+0.75%讀值)
±(1.5μm+0.75%讀值)
±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性
±(0.5μm+0.5%讀值)
±(0.8μm+0.5%讀值)
±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
*小曲率半徑(凸)
1.0mm
1.5mm
5mm
*小曲率半徑(凹,外置探頭)
7.5mm
10mm
25mm
*小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)
30mm
*小測(cè)量面積
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
*小基體厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度
每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下*大測(cè)量速度
每分鐘70個(gè)讀數(shù)