有關電子信息產品有害物質檢測的術語解釋

采用電子信息技術制造的電子雷達產品、電子通信產品、廣播電視產品、計算機產品、家用電子產品、電子測量儀器產品、電子專用產品、電子元器件產品、電子應用產品以及電子材料產品等產品及其配件。

整機：指通電時能實現某些功能的電子產品，如電視、電話、電扇等；

零部件：指只需借助簡單工具就可以拆分的構成整機的結構單元，如單板、電源和模塊等；

電子元器件：指構成電路板的電子元件或電子器件，如電阻、電容、集成電路、光器件、接插件等

原材料：主要指構成電子元器件或結構件的基本材料，如金屬、塑料、焊料、膠粘劑、涂覆料、清洗劑等，此類物質一般可視為“均勻材料”。

2、 可拆分單元(Dismountable Unit)

用普通工具可拆卸的整機、零部件、電子元器件和組裝材料等。（注：拆解手段包括但不限于用普通工具進行諸如旋轉或斷開之類的動作）。

3、物質(Substance)

指由自然界中存在的化學元素組成的單質或化合物(例如： 鉛是一種單質，而氧化鉛則是一種化合物)。

4、篩選(Screening)

初步量化被檢物中待測元素濃度的一種分析方法。

5、聚合物材料(Polymeric Materials)

通過鑄模或壓延能被制成薄膜、光纖類產品的合成或半合成有機濃縮材料。聚合物材料包括聚乙烯, 聚氯乙烯, 環氧樹脂, 聚酰胺,聚碳酸酯，ABS 樹脂, 聚苯乙烯等。

6、金屬材料（Metallic Materials）

金屬材料是金屬元素的化合物，包括所有鋼鐵、有色金屬或合金材料。注（金屬材料有鐵合金,鎳合金, 錫合金, 鋁合金, 鎂合金,銅合金, 鋅合金, 貴金屬合金等）。

7、專用電子材料（Special Electronic Materials）

是指在電子信息產品中所使用的一些特殊材料，由金屬材料、有機材料、無機非金屬材料中兩種或三種材料組成的均勻混合物。如線路板基材、導電膠等。

8、無機非金屬材料（Inorganic Nonmetallic Materials）

是以某些元素的氧化物、碳化物、氮化物、鹵素化合物、硼化物以及硅酸鹽、鋁酸鹽、磷酸鹽、硼酸鹽等物質組成的材料。是除有機高分子材料和金屬材料以外的所有材料的統稱。包括玻璃、陶瓷等材料。

9、 基體(Matrix)

分析物的材料或物質，或含有被分析物材料或物質的形狀或形態。

10、 均勻材質（Homogenous Material）

由一種或多種物質組成的各部分的均勻一致的材料，由于理想的均勻材質與普通材質不易區分，因此，可以將不能通過機械手段（如刨、磨、剪、刮等）進一步拆分的部件或材料認為是均勻材質。

11、X射線熒光光譜（XRF，X-Ray Fluorescence Spectrum）

作為一種相對分析技術，在較嚴格的條件下用一束X-射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射特征X射線。這些特征X射線對應于各特定元素，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。該發射特征X射線的過程稱為X射線熒光。

12、 電感耦合等離子體原子發射光譜[ICP-AES（-OES），Inductively Coupled PlasmaAtomic Emission Spectroscopy]

利用高頻等離子體原子化或者離子化的方法確定樣品中目標元素的方法。測量激發原子或離子的能量。通過激發能量對應的波長確定樣品中存在的元素。

13、電感耦合等離子體質譜（ICP-MS，Inductively Coupled Plasma MassSpectroscopy）

通過高頻等離子體使樣品離子化的方法確定樣品所含的目標元素。用質譜儀測出產生的離子數量，并由目標元素的質/荷比來分析目標元素及其同位素。

14、 原子吸收光譜（AAS，Atomic Absorption Spectrometry）

用火焰或化學反應等方式將欲分析試樣中待測元素轉變為自由原子，通過測量蒸氣相中該元素的基態原子對特征電磁輻射的吸收，以確定化學元素含量的方法。

15、冷蒸氣原子吸收光譜（CVAAS，Cold Vopour Generation Atomic AbsorptionSpectrometry）

將欲分析試樣中的汞離子，還原成自由原子，通過測量該蒸氣相中的基態原子對特征電磁輻射的吸收，以確定汞元素含量的方法。

16、原子熒光光譜儀（AFS，Atomic Fluorescence Spectrometry）

利用原子熒光譜線的波長和強度進行物質的定性與定量分析的方法。

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